yieldHUB 是一家專注于半導體行業良率優化的獨特企業，致力于通過平臺整合工程團隊，實現數據分析與產品知識共享，從而提升良率。這一目標依托于制造流程多環節數據的統一，但實際挑戰更為復雜 —— 制造過程中實時發生的波動會對性能與良率產生重大影響，而匯總后的測量數據無法捕捉這類問題。

為此，yieldHUB 推出了全新的實時智能分析能力，并上線全新官網，以統一、易用的形式呈現更全面的信息。本文將詳解新官網內容與實時技術，解讀 yieldHUB 如何擴大行業影響力。

全新界面，更全面的信息

全新官網展現了 yieldHUB 平臺多年的演進成果，架構更廣泛，覆蓋半導體產品全生命周期、各行業及各類器件架構。平臺核心包含兩大關鍵組件：

yieldHUB

傳統半導體良率管理平臺，整合晶圓探針與終測數據，支撐良率分析、工程洞察與生產監控。

yieldHUB Live

全新的實時制造智能功能，專為測試車間提供可視化與管控能力，支持工程與運營團隊在生產過程中實時監控良率、分 bin 與參數，更早發現異常、更快響應。

新官網實現了大幅擴容，架構設計精良、視覺呈現清晰，內容廣度與深度顯著提升，包括：

• 覆蓋半導體產品全生命周期的解決方案（如新產品導入、良率爬坡、大批量生產、智能制造）

• 按工程目標劃分的內容：良率提升、工程效率、測試成本降低、質量與可靠性

• 更全面的行業與器件架構覆蓋：AI / 高性能計算、功率半導體（碳化硅、氮化鎵）、光子學、射頻、MEMS、多芯片設計驅動的先進封裝

• 面向半導體企業不同角色的專屬板塊：工程、運營、質量、財務、信息技術

• 覆蓋完整半導體生態：IDM、無晶圓廠企業、外包封測廠（OSAT）、晶圓代工廠、設備廠商

官網還新增大量技術內容，提供更多博客與工程資源，聚焦良率爬坡、新產品導入分析、半導體數據科學等主題。無論身處哪個行業、擔任何種職位，只要關注高效半導體相關內容，都能在 yieldHUB 新官網獲取所需信息。

yieldHUB Live 實時制造智能平臺

yieldHUB Live 為大批量制造環境提供半導體測試車間監控與設備綜合效率（OEE）優化能力，可在無需更改硬件、無需修改測試程序的前提下，實現跨測試機臺、跨廠區的實時生產可視化與管控，能夠減少復測、提前發現良率與參數漂移、提升設備利用率、控制單顆芯片成本。

該平臺支持外包封測廠、IDM、無晶圓廠企業的復雜全球測試運營，核心能力包括：

• 持續可視化監控半導體測試車間生產狀態

• 提升測試機利用率與設備綜合效率

• 減少不必要的復測

• 提前預警良率與參數漂移

• 為外包封測廠與 IDM 提供跨廠區可視化能力

• 無需硬件改造、不影響測試程序，兼容絕大多數測試機臺

此外，平臺可擴展制造執行系統（MES）的實時生產控制能力。傳統系統僅追蹤事務記錄，無法提供運營智能決策支持，而 yieldHUB Live 新增實時半導體制造分析層，將靜態報表轉化為持續生產管控。

系統通過可視化儀表盤精準呈現測試車間真實運行狀態，助力操作員、技術員與工程師快速響應，包括：

• 持續監控測試機臺狀態

• 實時追蹤批次、機臺、廠區的良率與分 bin 數據

• 晶圓級、分 bin 級、芯片級參數監控

• 異常告警與趨勢預警

• 高并行環境下的跨廠區健康狀態監控

• 高并行環境下的跨廠區性能監控

在大批量半導體生產場景中，設備利用率哪怕僅提升 1 個百分點，每年都能創造數百萬美元的價值。yieldHUB Live 可實時定位生產損耗，將其轉化為可持續的性能提升。