- 假設設計的某個時鐘驅動了大量觸發器，以至它們的峰值開關動作超過設計的總體功率預算。我們不希望測試邏輯去改變任何時鐘，相反我們將設計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數量和組成需要仔細選取，以便任何單個模塊(包括具有大部分觸發器的模塊)的觸發器開關速率不超過總功率預算。從這方面講，可以認為分割將功率預算硬連(hardwire)進了設計。
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ATPG 數字電路設計 SoC DFT
- 完全的數字電路測試方法通常能將動態功耗提高到遠超出其規范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規模SoC時這個問題尤其突出，甚至會使生產線上出現不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問題的最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過程中結合可感測功率的測試技術。本文將首先介紹動態功耗與測試之間的關系，以說明為何功率管理現在比以往任何時候都迫切；然后介紹兩
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ATPG DFT 數字電路測試
- 掃描測試是測試集成電路的標準方法。絕大部分集成電路生產測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術，特點是結果的可預測性高并且效果不錯。它還能實現精確的缺陷診斷，有助于
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掃描測試 IC測試 ATPG
- 美國加州圣荷塞，芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司日前宣布，公司已向領先的半導體內置自測（BIST）和診斷解決方案提供商LogicVision公司提供了自動測試向量生成（ATPG）技術的授權。通過這項協議，LogicVision公司將能夠更快拓展產品組合，為客戶提供更全面的可測性設計（DFT）功能以改善測試質量、縮短納米IC設計周期并降低納米IC成本。此外，兩家公司還簽署了一份單獨協議
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微捷碼 BIST ATPG DFT IC
- 捷碼(Magma)設計自動化公司發表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產品使設計師能明顯改進測試質量, 減少周轉時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設計環境, 微捷碼提供唯一真正實現物理相關DFT(Physically Aware DFT™)的IC 實現流程。
今天芯片設計的復雜度和更小的尺寸使測試制作的IC更加復雜。新的失效機制不斷涌現。
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消費電子 捷碼 ATPG ATPGX 消費電子
- 微捷碼(Magma)設計自動化公司發表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產品使設計師能明顯改進測試質量, 減少周轉時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設計環境, 微捷碼提供唯一真正實現物理相關DFT（Physically Aware DFT） 的IC 實現流程。 &n
- 關鍵字：
消費電子 微捷碼 Talus ATPG DFT MCU和嵌入式微處理器
atpg介紹
自動測試圖樣產生(Automatic test pattern generation, ATPG) 系統是一種工具，產生資料給制造出來后的數字電路作測試使用。
測試超大型集成電路，要達到非常高的錯誤涵蓋率（en:Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的復雜度很高。 針對組合邏輯（Combinatorial logic）和循序邏輯（Sequential logic）的電路測試，必須 [
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