半導(dǎo)體?測試?系統(tǒng)? 文章 最新資訊
NI專用于LEGO® MINDSTORMS® NXT玩具機器人的LabVIEW工具包
- 幫助LabVIEW用戶開發(fā)第三方的新一代機器人系統(tǒng) 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)正式宣布推出專用于LEGO® MINDSTORMS® NXT玩具機器人的LabVIEW工具包。通過這個最新的工具包,LabVIEW用戶可以創(chuàng)建并下載VI,來操作和控制MINDSTORMS NXT機器人平臺,第三方軟硬件開發(fā)者也可以使用這一工具為MINDSTORMS NXT軟件創(chuàng)建本地模塊。LEGO MIND
- 關(guān)鍵字: LabVIEW工具包 LEGO® MINDSTORMS® NI NXT 測量 測試 玩具機器人 消費電子 測試測量 消費電子
基于e語言的驗證自動化系統(tǒng)
- 驗證技術(shù)的發(fā)展在目前的集成電路設(shè)計中,芯片的規(guī)模和復(fù)雜程度正呈指數(shù)增加,為保證所設(shè)計芯片功能的正確性,需要花費比以往更多的時間和人力,困難度大幅增加。而且,目前的功能驗證能力已經(jīng)遠遠落后于設(shè)計能力,功能驗證正成為大規(guī)模芯片設(shè)計的瓶頸。設(shè)計人員通常需要花費50%~70%的時間去驗證他們的設(shè)計。雖然有形式驗證等多種驗證方法可供選擇,但是設(shè)計者還是偏好基于仿真的驗證,本文中的驗證主要是指仿真。為了降低驗證的工作量和提高驗證的效率,越來越多的設(shè)計人員采用高級驗證語言(HLV)來進行芯片驗證。 &
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802.11B的無線網(wǎng)卡在DSP系統(tǒng)中的實現(xiàn)
- 研究基于802.11B的無線網(wǎng)卡在嵌入式數(shù)字信號處理器(DSP)OMAP5912上的實現(xiàn)。
- 關(guān)鍵字: 實現(xiàn) 系統(tǒng) DSP 無線網(wǎng)卡 802.11B
半導(dǎo)體:新產(chǎn)品迭出 新技術(shù)紛呈
- 全球進入65納米時代 2006年隨著65納米工藝的成熟,英特爾公司65納米生產(chǎn)線步入大批量生產(chǎn)階段。除英特爾外,美國德州儀器、韓國三星、日本東芝等世界上重要的半導(dǎo)體廠商的65納米生產(chǎn)線也紛紛投產(chǎn)。 在65納米工藝上,IBM等公司開發(fā)出了快速CMOS技術(shù)。他們采用了SiGe的應(yīng)變硅技術(shù)和SiN薄層,使所開發(fā)的nMOS晶體管的驅(qū)動電流為1.259mA/μm,pMOS晶體管的驅(qū)動電流為0.735mA/μm。該快速MOS晶體管的漏電流在斷開狀態(tài)下僅為200pA/μm。除應(yīng)變硅技術(shù)外,還采用了先進的10層布
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飛思卡爾與IBM宣布簽署標志性技術(shù)開發(fā)協(xié)議
- 德州奧斯汀和紐約阿芒克-2007年1月23日訊-飛思卡爾半導(dǎo)體公司和IBM宣布,飛思卡爾將加入IBM技術(shù)聯(lián)盟,聯(lián)合進行半導(dǎo)體的研究與開發(fā)。 此協(xié)議包括互補性氧化金屬半導(dǎo)體(CMOS)技術(shù)和絕緣硅(SOI)技術(shù)以及45納米一代產(chǎn)品的高級半導(dǎo)體研究和設(shè)計支持轉(zhuǎn)換。飛思卡爾是第一個與IBM技術(shù)聯(lián)盟共同參與低功耗和高性能技術(shù)研究和開發(fā)的技術(shù)開發(fā)合作伙伴。 本協(xié)議將飛思卡爾在主要嵌入式市場(包括汽車、聯(lián)網(wǎng)、無線、工業(yè)和消費電子)的領(lǐng)先技術(shù)水平與IBM開發(fā)世界一流技術(shù)和業(yè)界領(lǐng)先系統(tǒng)技術(shù)的成功經(jīng)驗結(jié)合起來。 此次合作將
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安捷倫推出J-BERT軟件最新版本全面測試抖動容限
- Agilent發(fā)布4.5版本的Agilent J-BERT N4903A高性能串行BERT軟件,使測試工程師能夠以最快速度獲得抖動容限測試結(jié)果。 在計算機、存儲和通信等行業(yè)中,新一代多千兆位設(shè)備正方興未艾。設(shè)計和驗證人員需要新的測試工具,以便高效、精確地對這些高速接口進行表征和一致性測試。 屢獲殊榮的Agilent J-BERT可顯著改善這些千兆位接收機的抖動容限測試。J-BERT是業(yè)界唯一一款全面的抖動容限測試解決方案,使用經(jīng)過校準的內(nèi)置抖動源。自動抖動容限測試
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電子測量儀器及自動測試系統(tǒng)的新概念和新趨勢
- 前 言 進入21 世紀以來,科學技術(shù)的發(fā)展已難以用日新月異來描述。新工藝、新材料、新的制造技術(shù)催生了新的一代電子元器件,同時也促使電子測量技術(shù)和電子測量儀器產(chǎn)生了新概念和新發(fā)展趨勢。本文擬從現(xiàn)代電子測量儀器發(fā)展的三個明顯特點入手,進而介紹下一代自動測試系統(tǒng)的概念和基本技術(shù),引入合成儀器的概念,以供讀者參考。 現(xiàn)代電子測量儀器的發(fā)展趨勢 儀器性能更加優(yōu)異 儀器的性能更加優(yōu)異,測量功能更加強大,儀器的測量精度,測試靈敏度,測量的動態(tài)范圍等都達到了前所未有的高度。例如,Agilent 公司的PSA 頻
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電信網(wǎng)中業(yè)務(wù)沖突檢測的研究
- 早在20世紀80年代,貝爾實驗室就首次提出了業(yè)務(wù)沖突問題。根據(jù)ITU-T對業(yè)務(wù)沖突的描述,業(yè)務(wù)沖突是指一個業(yè)務(wù)邏輯實例對另一業(yè)務(wù)邏輯實例或?qū)ν粯I(yè)務(wù)邏輯的不同業(yè)務(wù)邏輯實例的不利影響。 實際電信網(wǎng)中的業(yè)務(wù)沖突可以理解為電信業(yè)務(wù)在實現(xiàn)時的相互干擾。 1、CPN Tools概述 Petri網(wǎng)是一種既具有圖形表達能力又具有嚴格數(shù)學定義的模擬工具,CPN(Colored Petri Nets)則是對它的一種擴展。CPN適用于對具有并發(fā)性和分布式特點的電信系統(tǒng)進行圖形化建模,并描述系統(tǒng)的動態(tài)特征。
- 關(guān)鍵字: CPN 測量 測試 沖突檢測 電信網(wǎng) 通訊 網(wǎng)絡(luò) 無線
Catalyst新增了三個包含最寬選擇范圍的嵌入式存儲器系列電壓監(jiān)控器件
- Catalys新推出了三個系列的電壓監(jiān)控器件,它們包含業(yè)內(nèi)最寬選擇范圍的嵌入式存儲器。CAT130xx系列具有1-,2-,4-,8-或16-kbit Microwire串行接口的嵌入式 EEPROM。CAT140xx和CAT150xx系列則具有2-,4-,8-或16-kbit I2C和SPI串行接口的嵌入式EEPROM。 這三種新的電壓監(jiān)控器件系列產(chǎn)品為2.5V,3V,3.3V和5V系統(tǒng)提供在2.32V到4.63V之間的7個復(fù)位門限。復(fù)位輸出可以是CMOS低電平或CMO
- 關(guān)鍵字: Catalyst 測量 測試 電壓監(jiān)控器件 電源技術(shù) 模擬技術(shù) 嵌入式存儲器系列 存儲器
半導(dǎo)體?測試?系統(tǒng)?介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條半導(dǎo)體?測試?系統(tǒng)?!
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