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沒有ATE生成向量的精密測試(04-100)

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作者: 時間:2008-04-01 來源:電子產品世界 收藏


 

本文引用地址:http://www.cqxgywz.com/article/81046.htm

  在電平-1~3V和頻率范圍DC~100MHz檢測共模信號。進入1個開路的共模信號抑制電平是400mVPK-PK。DC接入措施允許1個DC信號(一般從測試頭得到)加到上。

  實現硬件特性是 Assist 工作中心軟件,此軟件為環路量差的設置和調試提供GUI設計。另附加的圖像設備支持圖像生成,抖動容差性能圖動態的跟蹤編程環路參量變化。

  和串行鏈路改變著測試前景,使測試成本大大降低。

   Assist用Rel4.3HP-UX11或Linux操作系統在93000 SoC Tester上運行。目標必須支持環回/BIST測試模式。■(冰)


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關鍵詞: BIST DUT

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