從各研究機構研究的成果可以看出，環(huán)境溫度和負載率對可靠性的影響很大，這兩個方面對開關電源由于有很大的影響，所以下面將從這兩個方面分析如何設計出高可靠的開關電源。其中，PD為使用功率；PR為額定功率。UD為使用電壓；UR為額定電壓。

　　1）環(huán)境溫度對元器件的影響

　　表1～表3分別列出環(huán)境溫度對半導體器件、電容器和電阻器可靠性的影響。表1和表13以PD/PR＝0.5使用負載設計，而表12則以UD/UR＝0.65使用負載設計。

　　表1 環(huán)境溫度對半導體器件可靠性的影響

　　由表1可知，當環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時，半導體器件的失效率增大到30倍。

　　由表2可知，當環(huán)境溫度Ta從20°C增加到80°C時，電容器的失效率增大到14倍。

　　表2 環(huán)境溫度對電容器可靠性的影響

　　從表3可知，當環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時，電阻器的失效率增大到4倍。

　　表3環(huán)境溫度對電阻器可靠性的影晌

　　2）負載率對元器件的影響

　　表4和表5分別列出了負載率對半導體器件、電阻可靠性的影響。

　　由表4可知，當PD/PR＝0.8時，半導體器件的失效率是PD/PR＝0.2時的1000倍。

　　表4 負載率對半導體器件、電阻可靠性的影響（環(huán)境溫度50°C）

　　從表5可知，當PD/PR＝0.8時，電阻器的失效率是PD/PR＝0.2時的8倍。

　　表5負載率對電阻器可靠性的影響