基于FPGA實現感性元件電阻測試 作者： 時間：2017-01-09 來源：網絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 圖4、通過定點設計模型生成FPGA代碼4、 測試驗證圖5、感性電阻測試FPGA代碼圖6、未進行降采樣濾波電阻測試效果如圖6所示，起始跳變是由于線圈充電瞬間造成的，但是由于未進行由于線圈感應電動勢影響所以電阻變化較大，如圖7細化觀察。圖7、電阻變化較大通過降采樣濾波算法，濾除由于電流不穩定造成的感性線圈產生電動勢導致的電阻波動誤差，如圖8所示，感應線圈電阻測試穩定，通過與6位半DMM比較，結果一致。圖8、通過降采樣濾波后的電阻測試 上一頁 1 2 下一頁
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